Sajtóközlemény - VEKOP-2.3.3-15-2016-00003
Új korszerű szerkezeti anyagok kifejlesztéséhez elengedhetetlen az anyag szerkezetének az atomi skálától a milliméteres skáláig történő részletes feltérképezése. Az ELTE TTK-n mintegy 5 éve működik egy pásztázó elektronmikroszkóp (SEM), amely a hagyományos vizsgálatok mellett lehetővé teszi nanostruktúrák kialakítását ionsugaras porlasztással, valamint az elemösszetétel és a lokális kristály orientáció meghatározását a kb. 10 nanométeres skálán. A pályázat keretében két új nagyműszer beszerzésére nyílik lehetőség, amelyek két irányban terjeszti ki a vizsgálható méretskálát.
Az atomerő mikroszkóp (AFM/STM) a felületi atomok elhelyezkedésének közvetlen feltérképezésére ad lehetőséget. Emellett lehetővé teszi a vizsgált minta keménységének nanoskálán történő meghatározását is.
A másik berendezés egy általános célú röntgen diffraktométer. Ezzel a berendezéssel a hagyományosnak mondható diffrakciós méréseken kívül, mint például összetétel, szemcseméret meghatározás, stb. a diffrakciós csúcsok alakjának részletes vizsgálatával (vonalprofil analízis) mód van a kristályos anyagokban kialakuló hibaszerkezet meghatározására. Ezen a területen az ELTE Anyagfizikai Tanszékén dolgozó kutatók eredményei világszinten eddig is kiemelkedőek voltak. Az újonnan beszerzett berendezésekkel lényegesen javulnak a kutatások feltételei ezen a területen és további világszínvonalú eredményeket tud az egyetem elérni.
A beszerzésre kerülő berendezéseket az alábbi 4 kutatási témákban használják a kutatók:
További információ kérhető:
Dr. Groma István
Elérhetőség: tel: 1/411-6500/6402, e-mail:groma@metal.elte.hu